超声波探伤仪怎样校准？

  1、零点校正：由于超声波经过保护膜、耦合剂(直探头)或有机玻璃楔块(斜探头)进入待测工件，在缺点定位时，需将这局部声程移去，才能得到超声波在工件中实践声程。零点通常是经过已知声程的试块进行调理，如CSK-IA试块中的R100圆弧面(斜探头)或深100mm的大平底(直探头)。

  2、K值校正：由于斜探头探伤时不只要知道缺点的声程，更要得出缺点的笔直和水平方位，因而斜探头还要精确测定其K值(折射角)才能精确地对缺点进行定位。K值通常是经过对具有已知深度孔的试块来调理，如用CSK-IA试块50或1.5的孔。

  3、定量校正：定量调理通常选用AVG(直探头)或DAC(斜探头)。

  超声波探伤仪比别的探伤仪具有更高的分辨率和清晰度。超声波探伤仪在检测相同物品时可以检测到高于别的探伤仪，并且可以确保检测物体的细节缺陷和微小缺陷可以被捕获,相比别的探伤仪在准确度方面,超声波探伤仪显然更优越。